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Xper WLI 白光干涉仪
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器
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WLI Linnik 干涉仪
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芯硅谷 数显测厚表
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WLI Lab 白光干涉仪
WLI测量系统是为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度、微观结构和其它表面参数而设计,可满足电子、汽车、制造工业的使用需求。扩展的显微镜模式能使用户获得具有以下特点的
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WLI LA 白光干涉仪
WLI LA 白光干涉仪 本仪器比以往的显微镜可测面积大得多,使用者需在大测量面积和大数值孔径之间进行适当平衡。数值孔径决定了横向分辨率和可测量的微观/宏观表面倾斜程度。选择
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德国BMT WLI白光干涉仪
德国BMT WLI白光干涉仪 采用ACM 600 共焦显微镜可对物体的表面和结构进行非接触式的测量,评估和显示。装配不同的显微物镜,测量视场大小和精度也不同。视场的
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帕克 NX-Hybrid WLI 全自动工业 WLI-AFM 系统
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芯硅谷 D6228 机械百分测厚表
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白光干涉三维光学轮廓仪
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德国应用光谱白光干涉膜厚仪
发射信号可连接到几乎每个真空室无需维护舒适和易于使用的PEM—ProVis专业版软件用于全球主要的汽车灯以及CD生产商进行有机膜厚测试
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